美國PSS粒度儀解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的

　更新時(shí)間：2015-10-23 點(diǎn)擊量：3188

　　美國PSS粒度儀采用的設(shè)計(jì)理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，充分有效地融合了動態(tài)光散射（DLS）和電泳光散射（ELS）技術(shù)，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測量Zeta電位。粒度檢測分析復(fù)合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術(shù)的 NiComp 無約束自由擬合多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢，其的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的。NiComp 380 ZLS通過檢測分析膠體顆粒的電泳遷移率測量Zeta電位。Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強(qiáng)度的度量，美國PSS粒度儀是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)，Zeta電位（正或負(fù)）越高，體系越穩(wěn)定。

　　一、美國PSS粒度儀主要特點(diǎn)：

　　◆ 測定粒徑范圍: 0.5~400 um （可得更大范圍）

　　◆ 二次進(jìn)樣指數(shù)稀釋

　　◆ 全自動進(jìn)樣系統(tǒng)

　　◆ 光源：波長714nm大功率固體紅色激光二極管

　　◆ 通道數(shù)：8-512個（且用戶可根據(jù)需要自行設(shè)定）

　　◆ 進(jìn)樣量：1ul-1000ul

　　◆ 測量時(shí)間：10–180s

　　◆ 美國PSS粒度儀技術(shù)的單粒子光學(xué)傳感技術(shù) （SPOS技術(shù)）

　　◆ 稀釋: 技術(shù)的全自動進(jìn)樣及稀釋功能，避免污染物的入侵

　　◆ 誤差率：< 1%, 重現(xiàn)性佳

　　◆ 尺寸：Counter 長48cm x寬30cm x高20cm