Nicomp 380系列納米激光粒度儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析樣品體系的粒度分布。其主要用于檢測納米級別的體系和其他膠體體系，其粒徑檢測范圍0.3 nm-10μm。Nicomp 380系列對數(shù)據(jù)的分析不僅僅包括傳統(tǒng)的高斯（Gaussian）算法，還使用了patent的Nicomp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻的分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢，高分辨率的特性優(yōu)于同類產(chǎn)品。Nicomp 380系列納米激光粒度儀采用execellent的工業(yè)模塊化設(shè)計，可靈活方便地擴(kuò)展ZETA電位和其他功能，如：patent的自動稀釋系統(tǒng)、自動進(jìn)樣系統(tǒng)、在線進(jìn)樣系統(tǒng)、多角度檢測系統(tǒng)和各種激光器/檢測器。

此為英文版，后續(xù)會提供中文翻譯版本。